清洁度衰减实验操作流程
一、实验准备
设备与材料
清洁度检测设备（含萃取装置、过滤系统、显微镜、天平）、烘箱、干燥器、滤膜（需预先恒重处理）。
清洗剂（如去离子水或指定溶剂）、待测样品（需性能稳定）。
参数设定
确定清洗参数：清洗压力、喷射角度、清洗剂用量（如1L/次）。
二、实验步骤
样品预处理
将滤膜浸入清洗液后烘干（90±5℃, 30分钟），冷却并称重初始质量（G1）。
样品表面无明显污染，需符合检测前状态要求。
连续萃取清洗
首次清洗：使用设定参数对样品进行清洗，收集滤液并过滤，记录颗粒数量或重量。
重复清洗：同一样品连续清洗6次，每次均更换新滤膜并记录数据（颗粒数或重量G2）。
数据记录与分析
计算每次清洗的颗粒占比：
单次颗粒数 / 总颗粒数 ≤10% 或 单次重量（G2-G1） / 总重量 ≤10%。
若第n次数据满足上述条件（通常为第3–4次），判定参数合理；否则需调整参数重新实验。
三、验证与优化
参数验证
通过实验的清洗参数需重复验证3次，确保结果一致性。
工艺固化
符合衰减标准（≤10%）的参数纳入正式清洗工艺，用于后续生产检测。
关键注意事项
滤膜恒重：前后烘干条件需完全一致（温度、时间）。
设备校准：天平精度需达0.1mg，显微镜需定期校验颗粒识别功能。
环境控制：实验室温湿度稳定，避免外部污染干扰数据。
流程图示例
开始
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选择清洗方法和参数
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准备同一件样件
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对样件进行第1次清洗，记录颗粒数量
↓
对样件进行第2次清洗，记录颗粒数量
↓
...（重复清洗和记录，直到第6次）
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计算每次清洗得到的颗粒数据与所得颗粒总和的比值
↓
判断是否有任意一次的比值小于0.1（或10%，根据标准不同）
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是 → 清洗方法符合要求，确定清洗参数
↓
否 → 更改清洗方法和参数，重复实验
↓
结束
以上流程综合了ISO16232/VDA19标准的核心要求，通过多轮清洗和严格的数据分析确保萃取方法的有效性。
如有更多疑问可以联系捷布鲁专家团队：189-6156-0696.